| 圖片 | 型號(hào) | 品牌 | 封裝 | 數(shù)量 | 描述 | PDF資料 |
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CT4076-NA | Cal Test Electronics | 5 | OSCOPE PROBE X100/X1K 35MHZ 50M | ||
| 參數(shù)：Cal Test Electronics|散裝|Elditest?, Cal Test|在售|有源差分|100：1，1000：1|35MHz|50M|7500V... | ||||||
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CT4197 | Cal Test Electronics | 12 | DIFFERENTIAL PROBE KIT, 100 MHZ, | ||
| 參數(shù)：Cal Test Electronics|盒|-|在售|差分|10:1，100:1，1000:1|100MHz|20M|4000V（4kV）（DC + AC 峰... | ||||||
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CT4072 | Cal Test Electronics | 11 | OSCOPE P X100/200/500/1K 100MHZ | ||
| 參數(shù)：Cal Test Electronics|盒|-|在售|有源差分|100:1，200:1，500:1，1000:1|100MHz|54M|3.5kV（DC + ... | ||||||
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CT4028 | Cal Test Electronics | 14 | OSCOPE PROBE X1K 220MHZ 900M | ||
| 參數(shù)：Cal Test Electronics|散裝|Elditest?, Cal Test|在售|電壓探頭|1000:01:00|220MHz|900M|39000... | ||||||
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CT4198 | Cal Test Electronics | 3 | DIFFERENTIAL PROBE KIT, 100 MHZ, | ||
| 參數(shù)：Cal Test Electronics|盒|-|在售|差分|20:1，200:1，2000:1|100MHz|30M|8000V（8kV）（DC + AC 峰... | ||||||
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CT4079-NA | Cal Test Electronics | OSCOPE PROBE X200/X2K 50MHZ 40M | |||
| 參數(shù)：Cal Test Electronics|散裝|Elditest?, Cal Test|在售|有源差分|200:1，2000:1|50MHz|40M|15000... | ||||||
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T3HVD1500-200 | Teledyne LeCroy | 4 | HIGH VOLTAGE DIFFERENTIAL PROBE | ||
| 參數(shù)：Teledyne LeCroy|盒|T3HVD|在售|電壓探頭，差分|50：1，500：1|200MHz|10M|CAT II 1000V，CAT III 60... | ||||||
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HVD3220 | Teledyne LeCroy | 7 | 2KV 400MHZ HIGH VOLTAGE DIFFEREN | ||
| 參數(shù)：Teledyne LeCroy|盒|HVD|在售|電壓探頭，差分|-|400MHz|-|CAT I 2000V，CAT III 1500V|-|-|黑色和紅色|... | ||||||
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CT2674A | Cal Test Electronics | 34 | OSCOPE PROBE X1/X10 100MHZ 10M | ||
| 參數(shù)：Cal Test Electronics|散裝|Cal Test|在售|無(wú)源|1：1，10：1|100MHz|10M|CAT II 300V|16pF|47.2... | ||||||
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1P20B | TPI (Test Products Int) | 17 | OSCOPE PROBE X1 15MHZ 1M | ||
| 參數(shù)：TPI (Test Products Int)|散裝|1P20B|在售|無(wú)源|1:01|15MHz|1M|150V|47pF|47.244"（1200.00mm... | ||||||
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GE2501 | Cal Test Electronics | 22 | OSCOPE PROBE X1 55MHZ 1M | ||
| 參數(shù)：Cal Test Electronics|散裝|GE, Elditest?, Cal Test|在售|無(wú)源|1:01|55MHz|1M|CAT II 300V|... | ||||||
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CT2704 | Cal Test Electronics | 15 | OSCOPE PRB X1/X10 100MHZ 1M/10M | ||
| 參數(shù)：Cal Test Electronics|散裝|Cal Test|在售|無(wú)源|1：1，10：1|100MHz|1M，10M|CAT II 300V|45pF，1... | ||||||
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CT2704SA | Cal Test Electronics | 11 | OSCOPE PRB X1/X10 100MHZ 1M/10M | ||
| 參數(shù)：Cal Test Electronics|散裝|Cal Test|在售|無(wú)源|1：1，10：1|100MHz|1M，10M|CAT II 300V|45pF，1... | ||||||
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SP100B | TPI (Test Products Int) | 43 | OSCOPE PRB X1/X10 100MHZ 1M/10M | ||
| 參數(shù)：TPI (Test Products Int)|散裝|SP|在售|無(wú)源|1：1，10：1|100MHz|1M，10M|CAT II 150V，300V|47pF... | ||||||
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P200B | TPI (Test Products Int) | 20 | OSCOPE PROBE X10 200MHZ 10M | ||
| 參數(shù)：TPI (Test Products Int)|散裝|P200|在售|無(wú)源|10:01|200MHz|10M|CAT II 300V|15pF|47.244"（... | ||||||
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P250B | TPI (Test Products Int) | 13 | OSCOPE PROBE X10 250MHZ 10M | ||
| 參數(shù)：TPI (Test Products Int)|散裝|P250|在售|無(wú)源|10:01|250MHz|10M|CAT II 300V|14pF|47.244"（... | ||||||
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SP200B | TPI (Test Products Int) | 17 | OSCOPE PRB X1/X10 200MHZ 1M/10M | ||
| 參數(shù)：TPI (Test Products Int)|散裝|SP|在售|無(wú)源|1：1，10：1|200MHz|1M，10M|CAT II 150V，300V|47pF... | ||||||
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CT2707 | Cal Test Electronics | 14 | OSCOPE PROBE X100 250MHZ 100M | ||
| 參數(shù)：Cal Test Electronics|散裝|Cal Test|在售|無(wú)源|100:01:00|250MHz|100M|CAT I 1200V|6.5pF|4... | ||||||
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GE2521 | Cal Test Electronics | 3 | OSCOPE PRB X1/X10 250MHZ 1M/10M | ||
| 參數(shù)：Cal Test Electronics|散裝|GE, Elditest?, Cal Test|在售|無(wú)源|1：1，10：1|250MHz|1M，10M|CAT... | ||||||
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SP250B2 | TPI (Test Products Int) | 5 | OSCOPE PRB X1/X10 250MHZ 1M/10M | ||
| 參數(shù)：TPI (Test Products Int)|散裝|SP|在售|無(wú)源|1：1，10：1|250MHz|1M，10M|CAT II 150V，300V|47pF... | ||||||
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